膜厚計 120(W)×250(D)×55(H)mm LE-200J 1個

ケット 膜厚計 LE-200J 1個【仕様】●測定方式:電磁誘導式●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜 ●測定範囲:0～1500μmまたは60.00mils ●測定精度: 15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2％ ●分解能:100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm ●適合規格:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376●統計機能:測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号●プローブ:一点接触定圧式(LEP-J) ●表示方法:デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm) ●外部出力: RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps) ●電源:AC100V(50/60Hz)または電池1.5V(単3アルカリ)本体部×6、プリンタ部×4 【特長】●ポータブルタイプのプリンタ内蔵型膜厚計です。●磁性金属上に施されたメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装・ライニングなどの膜厚を、被膜に傷をつけることなくすばやく正確に測定できます。●測定結果をその場でプリントアウトできます。 【注意事項】● L字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」 は、オプション品になります。 ケット 膜厚計 LE-200J 1個の特徴 ケット 膜厚計 LE-200J 1個の仕様サイズ：120(W)×250(D)×55(H)mm重量1.kgLE200J