膜厚計 120(W)×250(D)×55(H)mm LZ-200J 1個

ケット 膜厚計 LZ-200J 1個【仕様】●測定方式:電磁誘導式/渦電流式兼用●測定対象: 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 ●測定範囲:電磁式:0～1500μmまたは60.00mils、渦電流式:0～800μmまたは32.00mils ●測定精度:電磁式:15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2％渦電流式:50μm未満:±1μm、50μm以上:±2％ ●分解能:100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm ●適合規格: 電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 ●統計機能:測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号●プローブ: 一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J) ●表示方法:デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm) ●外部出力: RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps) ●電源:AC100V(50/60Hz)または電池1.5V(単3アルカリ) 本体部×6、プリンタ部×4 【特長】●電磁式と渦電流式の両機能を備え、しかもプリン タを内蔵したポータブルタイプの膜厚計です。●磁性金属上および非磁性金属上のさまざまな被 膜厚測定にすばやく対応します。●ボタンひとつ で平均値・標準偏差・最大値・最小値が求められる 統計計算機能、キャリブレーション・メモリ機能、 リミット設定機能などを装備しています。 【注意事項】● L字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」 は、オプションになります。 ケット 膜厚計 LZ-200J 1個の特徴 ケット 膜厚計 LZ-200J 1個の仕様サイズ：120(W)×250(D)×55(H)mm重量1.kgLZ200J